包裝低氣壓測(cè)試
概述
確定產(chǎn)品在低氣壓氣候環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于溫度、氣壓和曝露持續(xù)時(shí)間。
參考標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60068-2-41低氣壓試驗(yàn),海拔環(huán)境模擬測(cè)試
GB/T2423.25 電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
我們的核心價(jià)值觀:
科學(xué)、標(biāo)準(zhǔn)、專(zhuān)業(yè)、權(quán)威
上一個(gè):包裝溫濕度測(cè)試
下一個(gè):模擬運(yùn)輸測(cè)試
下一個(gè):模擬運(yùn)輸測(cè)試
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